Сайт ИнЕУ Упрощенный режим О Библиотеке Руководство пользователя
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Книжный фонд
Статьи
Электронные библиотеки
Периодические издания
Магистерские диссертации
Полнотекстовые электронные издания
Сайты журналов
Труды ученых ИнЕУ
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Книжный фонд (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=сканирующая<.>
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   22.3
   Г 61

    Головин, Ю. И.
    Введение в нанотехнику [Текст] / Головин Ю.И. - М. : Машиностроение, 2007. - 496 с. - ISBN 978521703782 : 7400.00 р.
ББК 22.3
Рубрики: Физика--нанотехника
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнология -- нанотехника -- квант -- наноструктура -- микроскопия -- электронная -- дифракционный анализ -- спектральный метод -- наночастица -- сканирующая -- атом -- зондовая -- оптическая -- нанотрубка -- полупроводниковый -- тонкая пленка -- наноэлектроника -- микроэлектроника -- молекулярная -- нанобиотехнология

Экз-ры: чзт(1)

” Цитировать
Найти похожие
2.
   620.179
   У 13

    Уайтхауз, Д.
    Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы [Текст] / Д. Уайтхауз; Пер. с англ. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 472 с. - ISBN 978-5-91559-023-5 : 15500 р.
УДК
620.179
Рубрики: Машиностроение--методы обработки
Кл.слова (ненормированные):
метрология поверхностей -- методы обработки -- машиностроение -- обработка -- инструмент -- профили -- визуализация -- шероховатость -- технология обработки -- токарная обработка -- алмазное точение -- фрезерование -- наношлифование -- щуповые приборы -- датчик -- оптический метод -- сканирующая микроскопия -- калибровка приборов

Экз-ры: чзт(3)

” Цитировать
Найти похожие
 
Стандартный
По словарю
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)