Сайт ИнЕУ Упрощенный режим О Библиотеке Руководство пользователя
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


Книжный фонд - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>K=методы измерения, обработки и моделирования для получения и использования наноматериалов<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.
   32.844.1
   К 55


    Кобаяси, Н.
    Введение в нанотехнологию [Текст] / Пер. с япон. А.В. Хачояна; Под ред. Л.Н. Патрикеева. - М. : БИНОМ, 2005. - 134. с. - ISBN 5947742187 : 1400.00 р.
ББК 32.844.1
Рубрики: Электроника--микроэлектроника
Кл.слова (ненормированные):
введение в нанотехнологию -- фронт ненотехнологических исследований -- история нанотехнологии -- мир нанотехнологий -- микроэлектроника -- электронные микроскопы -- работа атомно-силового микроскопа -- экономические и социальные последствия внедрения нанотехнологии -- электроника и информационные технологии -- нанотехнология и проблема записи информации -- разнообразные возможности применения наностекол -- наноматериалы и методы их обработки -- методы измерения, обработки и моделирования для получения и использования наноматериалов -- связь нанотехнологий с проблемами окружающей среды и энергетики -- нанотехнологии и сельское хозяйство -- нанотехнологии и развитие наук о жизни -- возможности применения нанотехнологий в авиации и космонавтике -- проблемы коммерциализации нанотехнологических исследований -- развитие нанотехнологий в мировом масштабе -- американская стратегия в области нанотехнологий -- развитие нанотехнологий в странах Европы -- приоритеты финансирования нанотехнологических исследований -- сканирование

Экз-ры: чз(1)

” Цитировать
Найти похожие

 




© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)