Сайт ИнЕУ Упрощенный режим О Библиотеке Руководство пользователя
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


Книжный фонд - результаты поиска

Вид поиска
Книжный фонд
Статьи
Электронные библиотеки
Периодические издания
Магистерские диссертации
Полнотекстовые электронные издания
Сайты журналов
Труды ученых ИнЕУ
Область поиска
 Найдено в других БД:Статьи (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=резонансный<.>
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
   32.846.2
   В75

    Воронков, Э. Н.
    Основы проектирования усилительных и импульсных схем на транзисторах [Текст] : учебное пособие для техникумов / Воронков Э.Н., Овечкин Ю.А. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Машиностроение, 1973. - 312 с. - 00.74 р.
ББК 32.846.2
Рубрики: Радиотехника--радиоаппаратура
Кл.слова (ненормированные):
усилитель -- схема -- импульс -- транзистор -- проектирование схем -- резонансный -- радиоэлектронная -- аппаратура -- микросхема -- прибор полупроводниковый -- диод -- усилитель транзисторный -- связь трансформаторная -- постоянный ток -- каскад усилительный -- ключ транзисторный -- триггер статический -- мультивибратор -- блокинг-генератор -- элемент диодный логический -- ограничитель -- феррит -- эксплуатация -- конструирование -- микроэлектроника -- модуль -- микромодуль -- прибор полупроводниковый -- хранение -- транспортировка



Соавторы:
Овечкин, Ю.А.
Экз-ры:

” Цитировать
Найти похожие
2.
   32.85
   Л 72

    Лозовский, В. Н.
    Нанотехнология в электронике. Введение в специальность [Текст] : учебное пособие / Лозовский В.Н., Константинова Г.С., Лозовский С.В. - СПб. : Лань, 2008. - 336 с. - ISBN 9785814276 : 3000 р.
ББК 32.85
Рубрики: Электроника--микроэлектроника
Кл.слова (ненормированные):
введение в специальность -- нанотехнология в электронике -- фундаментальные основы инженерной подготовки -- особенности обучения в вузе -- фундаментальные основы инженерной деятельности -- естественнонаучные основы практической деятельности человека -- фундаментальные основы дисциплин учебного плана -- основные требования к подготовке современного инженера -- этапы и основы развития электроники -- элементы квантовой физики -- квантовая модель атома -- полупроводниковые материалы в твердотельной электронике -- транзисторы -- элементы оптоэлектроники -- научные и технологические основы наноэлектроники -- физические основы наноэлектроники -- квантовая яма -- энергетический спектр электронов -- резонансный туннельный эффект -- одноэлектронные устройства -- спинтроника -- гигантское магнитосопротивление -- молекулярная электроника -- макромолекулярная электроника -- технические средства нанотехнологий -- эпитаксиальные методы получения наноструктур -- нанолитография -- рентгенолитография -- электронно-лучевая литография -- ионолитография -- зондовые нанотехнологии -- сканирующий туннельный микроскоп -- углеродные нанотрубки



Соавторы:
Константинова, Г.С.; Лозовский, С.В.
Экз-ры: аб(2), чз(1)

” Цитировать
Найти похожие
3.
31.294.9
Х 95

    Хрусталева, З. А.
    Электротехнические измерения [Текст] / З. А. Хрусталева. - 2-е изд., стер. - М. : КНОРУС, 2018. - 200 с. - (Среднее профессиональное образование). - ISBN 978-5-406-06003-2 : 4315 р.
ГРНТИ
45
ББК 31.294.9
Рубрики: Электротехника-электротехнические измерения
Кл.слова (ненормированные):
Электротехнические измерения -- основные сведения о метрологии -- основы теории погрешностей -- средства электротехнических измерений -- ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ СИГНАЛА -- ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ГЕНЕРАТОРЫ -- измерение основных электротехнических параметров -- измерение силы тока -- ИЗМЕРЕНИЕ МОЩНОСТИ -- автоматизация электротехнических измерений -- измерение параметров элементов цепей -- мостовой метод -- резонансный метод -- метод дискретного счета -- измерение параметров полупроводниковых диодов, транзисторов и интегральных микросхем -- логические анализаторы -- ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ -- виртуальные приборы -- интеллектуальные измерительные системы -- автоматизация электротехнических измерений -- измерительно-вычислительные комплексы -- измерение параметров интегральных микросхем

Экз-ры: аб(1), аб2(4)

” Цитировать
Найти похожие
 
Стандартный
По словарю
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)