Научная Библиотека Инновационного Евразийского Университета

Статьи

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: <.>K=тестирование микропроцессорных устройств<.>

Общее количество найденных документов : 1

Зайцева, Н. М.
Проблемы тестирования микропроцессорных устройств релейной защиты и автоматики [Текст] / Н. М. Зайцева, Е. В. Долгилев // Вестник ИнЕУ. - 2009. - №4. - С. 90-93
Рубрики: Компьютерные технологии
Кл.слова (ненормированные):
тестирование микропроцессорных устройств -- релейная защита -- электроэнергетика -- автоматика

Соавторы:
Долгилев, Е.В.
Экз-ры: чз(1)

” Цитировать
Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)