Вид документа : Шифр издания : 621.31/П 12 Автор(ы) : Павлов Л.П. Заглавие : Методы измерения параметров полупроводниковых материалов . -2-е изд., перераб. и доп. Выходные данные : М.: Высшая школа, 1987 Колич.характеристики :240 с ISBN, Цена 0: 50.00, р. ГРНТИ : 45 УДК : 621.31 ББК : 31.233 Предметные рубрики: Электроника Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): методы измерения параметров полупроводниковых материалов--точность измерения Экземпляры :аб(1) Свободны : аб(1)